蔡司Xradia Ultra系列
納米級X射線成像——開啟科學探索之門
同(tong)(tong)步(bu)輻(fu)射(she)(she)(she)(she)X射(she)(she)(she)(she)線納米(mi)(mi)CT能夠(gou)實(shi)(shi)(shi)現納米(mi)(mi)級(ji)的(de)(de)無(wu)損(sun)三維(wei)(wei)成(cheng)像(xiang)，但(dan)您(nin)(nin)只能申請非常有(you)限的(de)(de)線站機(ji)時。如果不用(yong)(yong)等(deng)待同(tong)(tong)步(bu)輻(fu)射(she)(she)(she)(she)的(de)(de)時間呢？想象一下，如果您(nin)(nin)在(zai)自己的(de)(de)實(shi)(shi)(shi)驗室里就(jiu)能進(jin)行同(tong)(tong)步(bu)輻(fu)射(she)(she)(she)(she)實(shi)(shi)(shi)驗該(gai)(gai)有(you)多好。有(you)了蔡司(si)(si)Xradia Ultra系列(lie)產品，就(jiu)意味著您(nin)(nin)擁有(you)了一臺可(ke)以(yi)(yi)提供同(tong)(tong)步(bu)輻(fu)射(she)(she)(she)(she)納米(mi)(mi)級(ji)圖(tu)像(xiang)分(fen)辨率的(de)(de)高質量(liang)三維(wei)(wei)無(wu)損(sun)X射(she)(she)(she)(she)線顯(xian)微鏡(jing)（XRM）。該(gai)(gai)系列(lie)有(you)蔡司(si)(si)Xradia 810 Ultra和蔡司(si)(si)Xradia 800 Ultra兩種型(xing)號供您(nin)(nin)選(xuan)擇，它們都(dou)是為您(nin)(nin)在(zai)常用(yong)(yong)的(de)(de)應(ying)用(yong)(yong)中(zhong)獲得出色(se)圖(tu)像(xiang)質量(liang)而定(ding)制的(de)(de)。您(nin)(nin)要求極高的(de)(de)研(yan)究值得擁有(you)出色(se)的(de)(de)圖(tu)像(xiang)質量(liang)和可(ke)靠的(de)(de)系統來加以(yi)(yi)輔(fu)助。Xradia Ultra采用(yong)(yong)來源(yuan)(yuan)于同(tong)(tong)步(bu)輻(fu)射(she)(she)(she)(she)的(de)(de)先(xian)進(jin)X射(she)(she)(she)(she)線光學技術(shu)，將其應(ying)用(yong)(yong)到(dao)實(shi)(shi)(shi)驗室設備中(zhong)。因此，您(nin)(nin)可(ke)以(yi)(yi)在(zai)實(shi)(shi)(shi)驗室中(zhong)按照您(nin)(nin)既(ji)定(ding)的(de)(de)計劃完成(cheng)同(tong)(tong)步(bu)輻(fu)射(she)(she)(she)(she)水(shui)平的(de)(de)納米(mi)(mi)CT。使用(yong)(yong)納米(mi)(mi)級(ji)三維(wei)(wei)X射(she)(she)(she)(she)線成(cheng)像(xiang)，加快您(nin)(nin)在(zai)材料研(yan)究、生命科學、自然(ran)資源(yuan)(yuan)和工(gong)業應(ying)用(yong)(yong)領(ling)域的(de)(de)研(yan)究進(jin)展。
優勢：
在樣(yang)品的(de)自然(ran)狀(zhuang)態下對其進行無損成像。可采用關聯工作流程，為后續的(de)其他研(yan)究保存(cun)樣(yang)品，或進行特別(bie)的(de)原位三(san)維實驗。
利(li)用空間分辨率可(ke)(ke)達(da)50nm、體素尺寸低(di)至16nm的(de)真正的(de)納(na)米級三(san)維X射線成像(xiang)，您可(ke)(ke)以(yi)獲(huo)得更多信息，識別更微小的(de)細節特征。
用三(san)維(wei)和(he)四維(wei)的(de)原(yuan)位實驗(yan)研究(jiu)微觀(guan)結構的(de)演變。
全面表征樣品：對測量的納米結構進行(xing)量化(hua)，并將(jiang)所得數據(ju)用于建模輸入。
還(huan)可同(tong)時(shi)研究軟硬材料等各種不同(tong)的樣品類型，并(bing)通(tong)過吸(xi)收和Zernike相位襯度提高圖像質(zhi)量。
在(zai)進行同步輻射實(shi)驗之前(qian)預先篩(shai)選樣品，充分(fen)利用申請到的機時。
產品亮點
用無損納米級成像(xiang)為您的研(yan)究增光添彩
利用上乘的無(wu)損成(cheng)像，在自(zi)然狀態下以三維方式觀察(cha)納米級現象(xiang)。
這是一(yi)款填(tian)補亞(ya)微(wei)米(mi)級(ji)圖像分辨率XRM（如(ru)蔡(cai)司Xradia Versa）和分辨率更高但具有破壞性的三(san)維成像系統（如(ru)FIB-SEM）之間空白的儀器。
使用集成的(de)原(yuan)位(wei)解決(jue)方(fang)案，在您的(de)實驗室(shi)就能進(jin)行圖像(xiang)分辨率高達50 nm、體素尺(chi)寸(cun)低至16 nm的(de)先進(jin)的(de)無損(sun)三維/四維X射線成像(xiang)。
將這些特殊的(de)(de)功能添加(jia)到您的(de)(de)分(fen)析組合中，加(jia)速(su)您的(de)(de)研究。
蔡司Xradia Ultra光學元件來源于同步輻射技術(shu)，讓您在(zai)自己(ji)的(de)實(shi)驗室中就能實(shi)現納米級成像和出色(se)的(de)襯(chen)度(du)。
實現出色的襯度(du)和圖(tu)像(xiang)質量(liang)
在不破(po)壞您的樣(yang)品情況下，切片不會有偽影的影響，以三(san)維(wei)方(fang)式觀察缺陷(xian)。
利(li)用吸收和(he)Zernike相位襯(chen)度，以出色的(de)(de)襯(chen)度和(he)圖像質量顯示(shi)細節。將兩種模式的(de)(de)數據結合(he)起來(lai)，能夠顯示(shi)出單一襯(chen)度無法(fa)實現的(de)(de)特征。
Xradia 810 Ultra和Xradia 800 Ultra都能為您***常用(yong)的(de)(de)應(ying)用(yong)提供出色的(de)(de)圖像質量(liang)。如何(he)選擇型號(hao)，取決(jue)于您希望獲得的(de)(de)襯(chen)度、通量(liang)和不同透過率(lv)的(de)(de)材(cai)料(liao)類型。
使用Xradia Ultra，可獲得具有(you)同步輻射效果的納米級X射線成像。
松針的(de)二維重建切片 Zernike相位(wei)襯度（ZPC）模(mo)式 吸收襯度
拓展您實驗室的界限
同(tong)步輻射(she)品(pin)質的成像效果讓您的研(yan)究水平更上一層樓。消除(chu)同(tong)步輻射(she)裝置上的準入障礙， 在自己的實驗室中就能按(an)計劃獲得相似的納米級成像效果。
進行以前在基于實驗室的成(cheng)像中不可能實現的四維和原位(wei)研究。
進行(xing)原位力(li)學、熱、電化學和環(huan)境測試。
使用(yong)(yong)(yong)關聯工(gong)作流并連接(jie)到其他成像分析(xi)(xi)方法（如蔡司Xradia Versa、蔡司Crossbeam、分析(xi)(xi)）。通過包括專用(yong)(yong)(yong)的Python API在內的簡化用(yong)(yong)(yong)戶界面，為廣大成像裝置用(yong)(yong)(yong)戶提供(gong)服(fu)務。
在進(jin)行原位(wei)壓縮實驗前用Zernike相(xiang)位(wei)襯度成像的三(san)維打(da)印納米(mi)晶(jing)格結(jie)構。樣(yang)品由德國(guo)卡爾斯(si)魯(lu)厄理工學院的R. Schweiger提供(gong)。
技(ji)術
在一(yi)個特殊的裝置中使用(yong)X射(she)線解析(xi)納米級的特征
對于(yu)旨(zhi)在用(yong)三維無損(sun)和納米級圖(tu)像分辨率來(lai)全(quan)面(mian)表征樣品的顯(xian)微(wei)技術人(ren)員(yuan)來(lai)說，他們需要能(neng)夠提供以(yi)下功能(neng)的光學元件：
* 納(na)米級(ji)圖(tu)像(xiang)分(fen)辨率的三維斷層成像(xiang)數據集
* 出(chu)色(se)的圖像質量
* 聚(ju)焦效率
* 在有限的實驗時間內(nei)獲得優良的信(xin)號
* 在(zai)低吸收樣品(pin)中也能(neng)顯示(shi)出特(te)征
過去，要制造出(chu)堅固且高效的X射線光學元件(jian)(jian)非(fei)(fei)常困難，這阻礙了可實現高分辨率成像的X射線顯微(wei)鏡的發展。蔡司(si)Xradia Ultra采(cai)用(yong)了來源于同步(bu)輻(fu)射研(yan)究(jiu)的先進光學元件(jian)(jian)，使(shi)您能夠(gou)充分利(li)用(yong)X射線的非(fei)(fei)破壞性，在實驗室中完成納米級的三維成像。
通過使用以下元件，您可盡享來源于同步輻射的架構的優點：
反射毛細管聚光(guang)鏡，可在***大通量密(mi)度下匹配光(guang)源特性(xing)和圖像
菲(fei)涅爾波帶(dai)片物鏡，獲得專(zhuan)利的(de)納米加(jia)工(gong)技術(shu)為(wei)您(nin)的(de)研究提供出色(se)的(de)圖像分辨率(lv)和聚焦效率(lv)
用于Zernike相位(wei)襯度的相位(wei)環，可(ke)顯(xian)示低吸(xi)收樣(yang)品的細節
基于(yu)閃爍體的高襯度、高效探測器，與CCD探測器光學耦(ou)合，在(zai)有限(xian)的實驗(yan)時(shi)間內為您提供(gong)優良的信號
隨著樣品的(de)旋轉，可以收集到各種投影角度的(de)圖像并將其重建為三維斷層數據(ju)集
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