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開啟電子顯微鏡速度的革新時代

借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以(yi)充分(fen)運用 91 條并行(xing)電(dian)子束的(de)采集速度。現(xian)如今，您能(neng)夠以(yi)納(na)米分(fen)辨率對厘米級樣品成像(xiang)。這款出色的(de)掃描(miao)電(dian)子顯微鏡（SEM）專(zhuan)為 7 x 24 小時的(de)連續、可靠運行(xing)而(er)設計。只需簡單設置高性能(neng)數據采集流程，MultiSEM 便能(neng)夠獨立地自動完成高襯度圖像(xiang)采集。

使(shi)用成(cheng)熟(shu)的 ZEN 成(cheng)像(xiang)軟件(jian)控制 MultiSEM：您可以直觀靈活(huo)地(di)管理這款高性(xing)能掃描電子(zi)顯微鏡的所(suo)有(you)功能選(xuan)項(xiang)。

以極高速度和納米分辨率采集圖像

91 條電(dian)子束(shu)同時工(gong)作，擁有出(chu)色的(de)成像速度。

在(zai)幾分(fen)鐘內對1 mm2的區(qu)域成像，分(fen)辨率高達(da) 4 nm。

借(jie)助經優化的二次電子探測(ce)器，以(yi)低信(xin)噪比采(cai)集高(gao)襯度圖像。

大型樣品的采集和成像

MultiSEM 配備有(you)一(yi)個(ge)可容納 10 cm x 10 cm 大小樣(yang)品的樣(yang)品夾。

對整個樣品成像并發現所有細節，助力于(yu)科研。

自動采集方案可(ke)實現大面積成像 - 您(nin)將獲得精細(xi)的(de)納(na)米圖像，且不丟失(shi)可(ke)見信息。

ZEN 成像軟件

使(shi)用(yong)(yong)成(cheng)熟的ZEN軟(ruan)件簡便(bian)直(zhi)觀地(di)操控 MultiSEM，該軟(ruan)件被應(ying)用(yong)(yong)于所有蔡司成(cheng)像系統

智能(neng)化自動(dong)調(diao)節程(cheng)序能(neng)夠幫助您(nin)以高分辨(bian)率和(he)高襯(chen)度捕獲(huo)圖像

根據樣品的(de)(de)實(shi)際(ji)情況(kuang)，快速輕(qing)松地創建(jian)復雜的(de)(de)自動采集流程

MultiSEM的ZEN 軟件可高(gao)速進行(xing)連續并行(xing)成像

開放的(de)API軟件接口可提供靈活快速的(de)應用開發

MultiSEM 同時運用(yong)(yong)了多條電(dian)(dian)子(zi)(zi)束（綠(lv)色：照明通(tong)路(lu)）和多個(ge)探(tan)測(ce)器。微調探(tan)測(ce)通(tong)路(lu)能夠(gou)收集(ji)大量的(de)二次電(dian)(dian)子(zi)(zi)（SE）用(yong)(yong)于成像。與分光鏡組合(he)使用(yong)(yong)，可讓二次電(dian)(dian)子(zi)(zi)信號到達（紅(hong)色：探(tan)測(ce)通(tong)路(lu)）多探(tan)測(ce)器陣(zhen)列。每條電(dian)(dian)子(zi)(zi)束在(zai)樣品的(de)一個(ge)位置執行同步掃(sao)描程序，以此獲(huo)得單個(ge)拼片(pian)(pian)圖像。電(dian)(dian)子(zi)(zi)束呈六(liu)邊形排列。通(tong)過合(he)并所有圖像拼片(pian)(pian)生成整幅圖像。

并行計算機設置程序用于快(kuai)速(su)記錄(lu)數(shu)據(ju)，確(que)保(bao)整體高成像(xiang)速(su)度(du)。圖像(xiang)采集(ji)和工作流(liu)程控制(zhi)在 MultiSEM 顯(xian)微鏡中(zhong)完全獨(du)立(li)。

對大體積樣品連續切片斷層掃描的數據獲取

使用(yong)ATUMtome 自動(dong)切割樹(shu)脂(zhi)包埋(mai)生(sheng)物(wu)組織。 一天(tian)內搜(sou)集多達(da)1000個連續切片(pian)。

將切片用(yong)(yong)膠(jiao)帶固定在硅晶片上并用(yong)(yong)蔡司的(de)光學顯微鏡成像(xiang)(xiang)。使用(yong)(yong)蔡司的(de) ZEN 成像(xiang)(xiang)軟件以及(ji) Shuttle & Find 功能組(zu)件對(dui)整體(ti)成像(xiang)(xiang)。再將硅晶片移至 MultiSEM 電子顯微鏡下，對(dui)樣(yang)品進(jin)行整體(ti)預覽并利用(yong)(yong) ZEN 軟件用(yong)(yong)戶界(jie)面規劃(hua)整個(ge)實驗。

用圖形化的控制中心設(she)置整(zheng)個實(shi)驗。高效的自動切(qie)片檢(jian)測可以(yi)識(shi)別和(he)標(biao)注感興(xing)趣區域，節省(sheng)大(da)量時間。