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用于材料研究的 Axio Vert.A1
所屬類別：光學顯微鏡
Axio Vert.A1 可以使用傳統和高級的觀察方式檢測大而重的樣品。可輕松在明場、暗場、DIC、C-DIC、熒光和反射偏光等觀察方式之間切換。在透射光觀察中，可使用明場、偏光和相差。或者將幾種觀察方式結合起來以獲取更多的附加信息。5位編碼型物鏡轉盤能夠自動識別物鏡改變。通過光路管理器調節光強。現在，您可以高效量化結構信息，評估材料特性和質量。獲取有價值的新信息，以及優化制備或生產流程。然后采取相應措施。

咨詢熱線：135-8498-1144

郵箱：[email protected]

產品特點

顯微結構和結構分析：觀察方式問題。

Axio Vert.A1 可以使用傳統和高級的觀察方式檢測大而重的樣品。可輕松在明場、暗場、DIC、C-DIC、熒光和反射偏光等觀察方式之間切換。在透射光觀察中，可使用明場、偏光和相差。或者將幾種觀察方式結合起來以獲取更多的附加信息。

5位編碼型物鏡轉盤能夠自動識別物鏡改變。通過光路管理器調節光強。現在，您可以高效量化結構信息，評估材料特性和質量。獲取有價值的新信息，以及優化制備或生產流程。然后采取相應措施。


特點：

使用各種物鏡快速成像

不同應用需要使用不同的物鏡。利用 Axio Vert.A1 的 5 位編碼物鏡轉盤可隨時選擇合適的放大倍率。節省時間和消除誤差來源：這種編碼方式允許 Axio Vert.A1 自動識別物鏡。

適用于各種細節成像的觀察方式

Axio Vert.A1 提供各類常用觀察方式：使用反射光觀察時，借助 4 位反射光鏡模塊轉盤，可以在明場、暗場、DIC、C-DIC、熒光和偏光觀察方式之間進行快速方便地切換，用于檢測諸如鎂和鋁等各向異性材料。切換至透射光觀察時，可以使用明場、偏光或相相差觀察方式。


重復性測量與比較

使用分度線和結構比較板進行測量和計數。此外，卡爾·蔡司 AxioVision 成像軟件可以提供一系列功能強大的模塊用于檢測，例如：晶粒度、多相分析、膜厚度測量和交互式測量。